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低頻阻抗分析儀支持哪些掃描方式,有什么作用?

發布時間: 2021-09-02  點擊次數: 140次
  低頻阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量,利用物體具有不同的導電作用,在物體表面加一固定的低電平電流時,通過阻抗計算出物體的各種器件、設備參數和性能優劣。
  
  阻抗分析儀用于所有容量的發電機組,測量各種同步發電機在動、靜態下的轉子交流阻抗及其特性曲線。其實想要使用好儀器,首先要了解被測件的測試參數,如頻率范圍,電平,偏置等,這些參數可以在儀器面板上的Stimulus菜單中設置。其他的參數的設置也都是在顯示屏右側兩欄中按鍵進行。
  
  低頻阻抗分析儀支持的掃描方式有以下幾種:
  
  1、線性頻率掃描:LinFreq頻率呈線性方式掃描;
  
  2、對數頻率掃描:LogFreq頻率呈對數方式掃描;
  
  3、分段掃描:Segment可以設置不同的頻率范圍,作為不同的分段掃描;
  
  4、電平掃描:OSCLevel設置的激勵信號電平的掃描;
  
  5、偏置掃描:DCBias儀器需要訂購001偏置選件,才有直流偏置掃描能力;
  
  6、對數偏置掃描:LogDCBias同上,一樣需要001選件,直流偏置呈對數方式掃描。
  
  以上的這幾種低頻阻抗分析儀掃描方式在測試中都有可能用到,Segment分段掃描可以設置兩個或兩個以上的頻率范圍,每個頻率范圍都可以稱之為一個分段Segment(只有頻率分段,其他參數不能做分段),在每個分段中可以設置不同的掃描點數、OSC電平、DCBias、測試時間、掃描延時、掃描時間。
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